ZnGa₂O₄ナノ粒子薄膜による放射線センシング［東京電機大学］

ワイドギャップ半導体のZnGa₂O₄をナノ粒子化し、薄膜成形が可能な技術です。
透明性・柔軟性のある薄膜のため、デバイスへの応用性が高く、ZnGa₂O₄の短波長紫外線からX線までを検出する特性により、リアルタイム放射線センシングへの応用が可能です。

#高精度・高機能｜ #モニタリング

ZnGa₂O₄ナノ粒子薄膜による放射線センシングについて

研究者: 東京電機大学　理工学部　教授　石井　聡
研究者情報: https://ra-data.dendai.ac.jp/tduhp/KgApp/k03/resid/S000431
特許情報: 特願2026-092348
Ｘ線検出材料及びそれを用いたＸ線検出器、並びにＸ線検出材料の製造方法
関連論文1［ZnGa₂O₄ナノ粒子合成］: https://link.springer.com/article/10.1007/s10854-022-08444-x
関連論文2［ZnGa₂O₄薄膜成形］: https://link.springer.com/article/10.1007/s10854-024-12652-y